基于驱动芯片的IGBT过流故障检测电路[实用新型专利]

来源：抵帆知识网

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：基于驱动芯片的IGBT过流故障检测电路专利类型：实用新型专利发明人：刘蕾,焦民胜,,郭燕齐申请号：CN202020750840.0申请日：20200508公开号：CN211930607U公开日：20201113

摘要：本实用新型公开了一种基于驱动芯片的IGBT过流故障检测电路，包括：驱动芯片单元、限流单元、上拉单元以及Desat检测单元；驱动芯片单元的内部集成有去饱和检测逻辑电路，限流单元的一端连接驱动芯片单元的Desat检测端口，另一端连接Desat检测单元；上拉单元的一端连接限流单元和Desat检测单元的连接端点，另一端连接恒定的高电平；Desat检测单元的一端连接IGBT的集电极，另一端接地。能够消除驱动芯片的Desat检测端口负压超限风险，降低驱动芯片的Desat检测端口灌电流过大风险，提高驱动芯片运行的可靠性。

申请人：一巨自动化装备(上海)有限公司

地址：200120 上海市浦东新区自由贸易试验区金海路1000号16号楼1201单元

国籍：CN

代理机构：苏州创元专利商标事务所有限公司

代理人：范晴

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