专利名称:一种薄膜结构及其形面控制方法专利类型:发明专利
发明人:许睿,李东旭,蒋建平,邹杰,刘望申请号:CN201610367214.1申请日:20160527公开号:CN106096080A公开日:20161109
摘要:本发明提供一种薄膜结构及其形面控制方法,薄膜结构包括薄膜阵面、周边张力索、边框、张拉点和调整机构,所述薄膜阵面的四边均设有周边张力索,薄膜阵面周边通过周边张力索提供张力,周边张力索通过多个张拉点固定在边框上的调整结构上,控制调整机构在面外方向的高度进而改变张拉点的高度,能够实现薄膜结构在轨运行过程中薄膜阵面的平面度控制。本发明所提出的形面控制方法是根据薄膜阵面的三维形面数据计算调整机构的调整量,以使得薄膜阵面的形面精度满足设计要求。本发明解决了薄膜结构在轨运行时会因为干扰载荷作用导致其薄膜阵面形面精度降低问题,提高了薄膜结构形面精度。
申请人:中国人民国防科学技术大学
地址:410073 湖南沙市开福区德雅路109号
国籍:CN
代理机构:北京中济纬天专利代理有限公司
代理人:陈立新
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