测试机存储测试向量的方法

来源：抵帆知识网

（19）中华人民共和国国家知识产权局

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN201510087479.1 （22）申请日 2015.02.25

（71）申请人上海华岭集成电路技术股份有限公司

地址 201203 上海市浦东新区张江郭守敬路351号2号楼2楼

（10）申请公布号 CN104656009A

（43）申请公布日 2015.05.27

（72）发明人余琨;罗斌;牛勇;华;王玉龙;岳小兵

（74）专利代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人周耀君

（51）Int.CI

权利要求说明书说明书幅图

（）发明名称

测试机存储测试向量的方法

（57）摘要

本发明提出了一种测试机存储测试向量的

方法，通过对单个测试向量进行重复行、重复段的压缩、对多个测试向量相同功能的向量段以及物理重复的向量段进行提取，实现节约测试机向量存储空间，不仅避免了对硬件升级造成额外花费的问题，还解决了多次加载测试向量，造成测试时间过长的问题。

法律状态

法律状态公告日

2015-05-27 2015-05-27 2015-06-24 2015-06-24 2017-12-08

公开公开

法律状态信息

公开公开

法律状态

实质审查的生效实质审查的生效授权

权利要求说明书

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说明书

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