tem测试标准

来源：抵帆知识网

tem测试标准

透射电镜（TEM）测试标准主要包括以下几个方面：

1. 样品制备：透射电镜样品需要经过精细的制备过程，以确保样品的表面平整、无划痕、无污染。制备过程中需要使用专业的工具和设备，如切割机、抛光机等，以确保样品的表面质量和完整性。

2. 样品厚度：透射电镜样品需要具有一定的厚度，以便在电镜下观察到样品的内部结构。样品的厚度需要根据实验目的和样品类型来确定，一般要求在几十纳米到几百纳米之间。由于受电镜高压，透射电子束一般只能穿透厚度为几十纳米以下的薄层样品，建议TEM的样品厚度最好小于100nm，太厚了电子束不易透过，分析出来的图片不清晰，成像不好。

3. 样品纯度：透射电镜样品需要具有较高的纯度，以避免杂质对实验结果的影响。样品的纯度可以通过化学分析、光谱分析等方法进行检测。

4. 样品状态：粉末、液体样品均可，一般会对样品做离子减薄、双喷、FIB、切片制样处理。

5. 样品磁性：强磁性样品可以进行消磁处理，要求颗粒大小200纳米，建议将样品由检测方制备。

以上是透射电镜（TEM）测试标准的主要内容，具体标准可能会根据实验目的和样品类型有所不同。在进行TEM测试时，建议咨询专业人士或机构，以确保测试结果的准确性和可靠性。

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