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确定平板检测器的几何成像性质的方法和x射线检查系统[发明专利]

来源：抵帆知识网

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：确定平板检测器的几何成像性质的方法和x射线检

查系统

专利类型：发明专利

发明人：A.苏佩斯,P.波库特内夫,E.诺伊泽尔,N.罗特申请号：CN201310624529.6申请日：20131129公开号：CN103852477A公开日：20140611

摘要：一种用于确定x射线检查系统中的平板检测器（12）的几何成像性质的方法包括以下步骤：在x射线源（11）与平板检测器（12）之间布置校准模型（13），其中该校准模型（13）包括至少一个离散几何对象（30）；利用平板检测器（12）记录校准模型（13）的至少一个x射线图像，其中至少一个离散几何形状（32）通过对校准模型（13）的至少一个离散几何对象（30）成像而在x射线图像中生成；以及根据至少一个离散几何形状（32）的至少一个特性，从至少一个x射线图像确定平板检测器（12）的位点依赖的失真误差。用于确定位点依赖的失真误差的至少一个离散几何形状（32）的所有特性于校准模型（13）的尺寸。

申请人：GE传感与检测技术有限公司

地址：德国霍尔特

国籍：DE

代理机构：中国专利代理()有限公司

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