多光斑光束分析方法及装置[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：多光斑光束分析方法及装置专利类型：发明专利

发明人：胡松,许维,王雪辉,王建刚申请号：CN202010757214.9申请日：20200731公开号：CN111855158A公开日：20201030

摘要：本发明实施例提供的多光斑光束分析方法，涉及光斑分析领域，所述方法包括：通过相机获取一帧图像，对图像进行分析；图像包括至少一个感兴趣区域；框选并复制感兴趣区域；分别对光斑区域的光斑参数进行分析测量，得到测量数据；汇总图像中所有感兴趣区域的测量数据，得到测量结果。通过框选并复制图像中的多个光斑区域，通过多个运行的进程分别对光斑区域进行光斑参数的分析测量，最后汇总一帧图像中的所有光斑区域的测量数据，得到测量结果；能够同时对多个光斑区域进行分析测量。

申请人：武汉华工激光工程有限责任公司

地址：430223 湖北省武汉市东湖新技术开发区华中科技大学科技园激光产业园

国籍：CN

代理机构：北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：杨鹏

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