专利名称:一种硅光电倍增管定位测试平台基测试方法专利类型:发明专利发明人:董宽
申请号:CN202011351944.5申请日:20201127公开号:CN112557859A公开日:20210326
摘要:本发明公开了一种硅光电倍增管定位测试平台基测试方法,包括以下步骤:A:将硅光电倍增管放置于测试台上电路板上,电路板上设有用于决定硅光电倍增管位置的定位块,硅光电倍增管的导电端与电路板上的导电片紧密接触;B:通过高压电缆将高电压输入到硅光电倍增管电压加载电极,并且通过同轴电缆与硅光电倍增管的阳极引出端连接。本发明通过具备操作简单,利于对输入电压进行控制,利于采集光电倍增管输出的不同强度的脉冲信号,测试精准度高的优点,解决了现有的硅光电倍增管测试方法操作繁琐,不利于对输入电压进行控制,不利于采集光电倍增管输出的不同强度的脉冲信号,使得测试精准度低,不利于测试数据分析的问题。
申请人:西安工业大学
地址:710021 陕西省西安市未央区学府中路2号
国籍:CN
代理机构:北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人:汤东凤
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